| 产品特性：台式 | 是否进口：否 | 产地：苏州 |
| 加工定制：是 | 类型：镀层测厚仪 | 品牌：佳谱 |
| 型号：T450 | 测量范围： 0.005um~50ummm | 显示方式：PC |
| 电源电压：AC220±5V 50/60HZV | 外形尺寸：380*372*362mm |
T450plus系列高性能多用型XRF
涂镀层分析 | RoHS检测 | 元素分析 |
T450plus系列为满足生产管控和研发领域中高精度镀层厚度或***材料成分分析而研制的一款多用型X荧光光谱仪，可为任何应用提供性能的仪器选择。
该系列仪器采用微聚焦增强型射线管和数字多道脉冲信号处理技术，同时搭载增强FP算 法软件与变焦装置，再加上高性能大面积探测器，无论在检测微小样品和凹槽的膜厚性 能，还是RoHS和元素分析方面，均具备***重复精度，这也是它广受客户、研究所等机构欢迎的原因。
技术参数
型号 | T450 plus | T450S plus |
成分分析检测 | S（16） - U（92） | Al（13） - U（92） |
涂镀层分析 | Li（3） -U（92） | |
ROHS检测 | 标配，***检出限可达2ppm | 标配，***检出限可达1ppm |
算法 | 增强型FP算法 | |
分析软件 | 可同时分析15层镀层，24种元素 | |
射线方向 | 从下往上 | |
***发生装置 | 微聚焦增强型射线管 | |
探测器 | 高性能Si-Pin半导体探测器 | FAST SDD探测器 |
高压 | 0-50KV智能程控高压系统 | |
准直器 | φ0.3mm(φ0.2mm)/φ0.5mm/φ3mm 多准自动切换 | |
样品观察 | 工业 CCD 高清摄像头 | |
对焦方式 | 手动对焦 | |
放大倍数 | 光学30-50X，数字放大40-160倍 | |
移动平台 | 微米级移动平台 | |
操作环境温湿度 | 10~35℃,湿度≤70% | |
工作电源 | 交流220±5V | |
安全系统 | 多维散热系统，多重辐射安全系统 |
性能优势
高稳定微聚焦集成系统 | 采用自主研发设计的高稳定性微聚焦增强型射线管和聚焦光路系统，最小测量点可达0.25mm。 |
搭载高性能探测器
| 分辨率***至129eV±5eV，能量线性和能量分辨率俱佳，具有更高的稳定性和精度。 |
高精度 | 含量检出限可达1ppm，厚度 检出限可达1nm。 |
变焦补偿算法 | 可对各种异形凹槽件进行无损检 测，凹槽深度范围 0-25mm。 |
使用寿命长 | 采用自主研发的多维散热系统，同时同样的测试面积功率***，整机与 射线管使用寿命***。 |
应用领域
| 智能体验 | 超高精度 |
稳定性高 | 功能强大 |
环保检测解决方案
欧盟ROHS指令-2011/65/EU | REACH指令 |
无卤指令[IEC61249-2-21] | 玩具En71指令 |
美国CPSIA消费品安全改进法 | IEC62321标准 |
China-RoHS国推自愿性认证 | GB/T26125-2011 |
